在用來進行低溫測量的熱電阻溫度計中，占比例 大的是鉑電阻。ITS-90 溫標規定工業裝置和實驗研究的低溫測量中，低溫區13.8033K~273.16K范圍內用鉑電阻作標準溫度計。目前，各國普遍將鉑電阻溫度計用于較的測量。
按照正式實施的技術標準體系劃分，鉑電阻溫度計有四個“派別”，除了在技術要求方面不一致外，分度表也不相同。1983年 電工委員會(CIEC)正式頒布的鉑電阻技術標準，采用電阻比W=R(100℃)/R(0℃)=1.3850的分度表。俄羅斯和一些東歐 自成體系，采用W=R(100℃)/R(0℃)=1.3910的分度表，日本采用W=R(100℃)/R(0℃)=1.3916的分度表。
也有自己的鉑電阻技術標準，它采用W=1.3920的分度表，但這個標準不是強制性的，而是推薦性的。 大部分鉑電阻公司既生產符合 技術標準的產品，也生產其他標準的產品，即按照客戶的需要進行供應。此外， 一些鉑電阻公司對自己產品提出的要求甚至超過了 電工委員會的規定，從這一點可以看出 人的商業觀念和產品意識。此外， 鉑電阻行業為了適應核電站、核工廠以及高性場合的需要，正在大力、試驗、生產高性鉑電阻溫度計，并制定了相應的 ，代表了目前 上 的技術水平。
在電阻材料方面， 研制成功直徑4μm鎢絲制成的電阻溫度計，可測量80K~400K，溫度變化頻率為30Hz的氦氣溫度，研制成的碳電阻溫度計，定點測量幾十mK到30K的低溫，復現性達0.005K。日本研制出利用銻化錮材料做成的半導體溫度傳感器，用于150K以下的低溫溫度測量，30K以上顯示較好的線性，，離散性小。德國1888年 創的錳銅電阻，至今為止仍然是 穩定的電阻材料，近年試制成功的一種鍺攙雜的錳銅，被用來制作銅電阻溫度計。
由于常用的低溫電阻溫度計在低溫狀態下比熱變小，所以易受外部干擾，產生較大誤差。為解決這一問題，日本研究了利用鋸薄膜作電極制造的低溫溫度計。由于鋸薄膜能在一的溫度范圍內產生超導轉移，所以可以利用這一特定溫度來進行溫度計的自我校正和經時變化的監視，以提高測量的性，靈敏度隨溫度降低而增加，從室溫的0.25Ω/K到4.2K的96Ω/K。
鉑(bo)(bo)電(dian)阻(zu)(zu)的(de)發展越來越依(yi)靠工藝裝備。近(jin)年來， 上鉑(bo)(bo)電(dian)阻(zu)(zu)生產(chan)廠用(yong)真空(kong)沉積、陰極濺射和燒結漿料等不(bu)同工藝方法(fa)推出一種(zhong)新(xin)薄膜(mo)鉑(bo)(bo)電(dian)阻(zu)(zu)，這(zhe)種(zhong)膜(mo)層(ceng)工藝改(gai)變了(le)原來的(de)線繞工藝制(zhi)造鉑(bo)(bo)電(dian)阻(zu)(zu)，在一些需表面、小區域和測(ce)溫以及(ji)需高阻(zu)(zu)值元件的(de)場合特別適用(yong)。薄膜(mo)鉑(bo)(bo)電(dian)阻(zu)(zu)在法(fa)國(guo)、德國(guo)生產(chan)發展很快，有(you)完整的(de)流水線，產(chan)量也很高。
